1、HD-175型活度計(ji)技術指標(biao)
l 測量核素：190個；
l 相對基本誤差：±2.2%；
l 長期穩定性：±0.12%；
l 分辨率：1KBq(0.03μCi)；
l 重復性：±0.12%；
l 量程：3.7KBq—370GBq；
l 低能探(tan)測限：13KeV；
l 測量時間：1-13s，可連(lian)續測量。
2、高壓電離室結構(gou)特點
l 電離室坪斜：0.008%；
l 噪(zao)聲電流：±2×10^-14 A；
l 噪聲本底(di)(⁶⁰Co)：1KBq。
3、單片機配置(zhi)型(xing)
l 單片(pian)機、液晶屏(ping)、12位A/D；
l 232口與(yu)Pc機(ji)通(tong)訊、寬行高速(su)微打；
l 核素活度、遞衰(shuai)活度及半(ban)衰(shuai)期測量(liang)；
l 監(jian)督源校正、時間換算和參數查(cha)詢；
l 自(zi)動(dong)換檔(dang)和扣除本(ben)底。
4、Pc機配置型 
l Pc機、12位A/D；
l 核素活(huo)度(du)和遞衰活(huo)度(du)測(ce)量；
l 監督源校(xiao)正、時間換算和(he)參數查詢；
l 半衰期(qi)測量和(he)誤差計算；
l 最小二乘(cheng)法計算斜率、截距和標(biao)準偏差。

5、靈敏度和井(jing)深軸向(xiang)曲(qu)線